全新的徠卡清潔度解決方案：快速識別污染源
可同時實現顆粒物視覺和化學分析的二合一系統
在清潔度分析過程中，必須盡可能快地找出污染源。徠卡顯微系統推出的清潔度專家解決方案現可為您提供更深入的顆粒物分析。它不僅能對顆粒物執行自動檢測、計數、分析和分類 (按照其導致損害的危險度)，還能同時確定顆粒物的成分。如今，您在搜尋污染源時可節省 90% 的時間。此外，您可在同一工作場所完成全部分析。
這樣有什么意義呢？
您可在數秒鐘內掌握所有相關信息，找出影響產品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴格的 VDA 19 和 ISO 標準。在定位顆粒物來源上節省時間也能促成更具經濟效益的清潔度分析。
那如何實現這一目標呢？
將顯微技術與激光光譜技術相結合。運行徠卡清潔度專家軟件的 DM6 M 顯微鏡中集成了 LIBS (激光誘導擊穿光譜) 系統。這種二合一解決方案允許您使用同一臺儀器執行視覺和化學分析。
由此，您可將清潔度分析流程縮減為一步，并避免使用電子顯微鏡 (SEM/EDS) 等手段執行代價高昂的下游分析。
全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優勢：
利用快捷的化學分析更快地找出污染源
在內部完成所有步驟，省時省錢
盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進行深入分析
- 無需額外的濾片樣品制備或轉移到其它設備
- 無需重新定位感興趣區域或調節系統
更快更輕松地執行清潔度分析。請在網站上進一步了解我們全新的清潔度專家及 LIBS 二合一解決方案。或者也可聯系當地的徠卡顯微系統有限公司銷售代表了解詳情。
